刻印検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-134687
公開番号（公開出願番号）：特開平11-311509
出願日： 1998年04月27日
公開日（公表日）： 1999年11月09日
要約：

【要約】【課題】印字用ダイの摩耗や欠けや動作不良により生じる金属基板の刻印不良を良好に判定可能な刻印検査装置を提供すること。【解決手段】金属基板1の主面10に対して所定距離離れて距離検出手段4が設けられ、金属基板1までの距離が検出される。距離検出手段1は金属基板1の主面10を相対的に二次元走査し、これにより金属基板1の主面10の刻印11及びその近傍の三次元形状データが得られる。この三次元形状データのうちの深さデータは、所定の第一しきい値で二値化処理され、これにより深さが第一しきい値以上である第一領域が作製され、この第一領域の周縁部の二次元形状すなわち輪郭線(以下、底面側輪郭線ともいう)が抽出され、この輪郭線の二次元画像形状と基準の輪郭線の二次元画像形状とを比較して刻印の良否が判定される。

請求項（抜粋）：

所定以上の深さの平坦な底面を有して金属基板に形成される底面部と、前記底部を囲んで前記金属基板の平坦な主面に略直角に形成される壁面部と、前記底面部及び壁面部に面して所定の二次元パタンに形成される凹部とを有する刻印の検査装置であって、前記金属基板の所定部位との間の距離を検出する距離検出手段と、前記距離センサを前記金属基板に対して相対的に前記金属基板の主面方向に二次元走査する走査手段と、前記距離検出手段から出力された前記刻印の深さデータを所定の第一しきい値で二値化処理して、深さが前記第一しきい値以上である第一領域の周縁部の二次元形状を抽出し、前記第一領域の二次元形状が所定の二次元画像形状範囲にない場合に前記刻印を不良と判定する凹部深さ判定手段を備えることを特徴とする刻印検査装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 , G01B 11/22 , G01B 11/26

FI (3件)：

G01B 11/24 F , G01B 11/22 Z , G01B 11/26 Z

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