特許

J-GLOBAL ID：200903040565694585

集積回路試験システム

発明者： チ-ジェン リン
出願人/特許権者： アメリカン テレフォン アンド テレグラフ カムパニー
代理人 (1件)： 三俣 弘文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-357266
公開番号（公開出願番号）：特開平6-118134
出願日： 1992年12月24日
公開日（公表日）： 1994年04月28日
要約：

【要約】【目的】 不良点カバー範囲が高度な組込み自己試験モードで実施できる集積回路の試験システムを提供する。【構成】 フリップフロップ141ないし14nと一部は走査連鎖161ないし16kを有する集積回路で各自己ループする非走査連鎖フリップフロップ146を初期化可能非走査フリップフロップ69と置換して試験を行う。この回路を初期化し、非操作モードに入れ、第1の試験ベクトルを走査連鎖フリップフロップによりシフトさせ先にラッチされたビットをシフトし出させる。操作モードに戻し、第2の試験ベクトルをその入力に加え、応答がその出力に現れ、ビットが走査連鎖フリップフロップにシフトされる。集積回路の応答をその走査連鎖フリップフロップからシフトされたビットで圧縮する。このプロセスを所定サイクル数の間繰返すことにより回路の不良点が表示される。

請求項（抜粋）：

複数のフリップフロップを含有する集積回路を試験する方法において、そのフリップフロップのうちから選択されたあるグループはこの集積回路の部分走査試験を行うため走査連鎖に配置され、この試験方法は、(a)自己ループする各非走査連鎖フリップフロップを初期化可能の非走査連鎖フリップフロップで置換するステップと、(b)各フリップフロップを既知状態に初期化するステップと、(c)この集積回路を非操作モードに入れるステップと、(d)第1の試験ベクトルをその走査連鎖フリップフロップへシフトし、その一方で同時に先にその走査連鎖フリップフロップへシフトされたビットを走査するステップと、(e)この集積回路を通常操作モードに戻すステップと、(f)この集積回路が応答を生成し各走査連鎖フリップフロップにビットをシフトするように、集積回路に第2の試験ベクトルを加えるステップと、(g)この集積回路の動作を表示するビットのストリームを生成するようにその走査連鎖フリップフロップからシフトされたビットでこの集積回路の応答を圧縮するステップとを有することを特徴とする集積回路試験方法。

FI (2件)：

G01R 31/28 G ,  G01R 31/28 V