特許
J-GLOBAL ID:200903040637671712

試料観察方法及びその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 吉田 精孝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-280764
公開番号(公開出願番号):特開平10-123054
出願日: 1996年10月23日
公開日(公表日): 1998年05月15日
要約:
【要約】【課題】 試料観察をより詳細に且つ効率良く実施できる試料観察方法と、この方法実施に好適な試料観察装置を提供する。【解決手段】 試料染色に用いられた各蛍光染料を励起可能な波長を含む光を試料切断面に照射し、撮像により得た蛍光画像データを各蛍光染料の励起波長別に分離して1つの切断面に対して励起波長毎の蛍光画像を得ることにより、これら画像を利用して試料の切断面や立体像をより詳細に観察することができる。また、1つの切断面に対し1回の撮像を行うだけで励起波長毎の複数の蛍光画像を得ることができるので、各蛍光染料を励起可能な波長光を別々に照射しながら撮像を繰り返す場合に比べて、撮像及びデータ取込に要する時間を短縮して効率の良い試料観察を実現できる。
請求項(抜粋):
試料切断面を照明しながら撮像手段により撮像し、撮像により得た切断面毎の画像データに基づいて試料観察を行う試料観察方法において、異なる波長光で励起可能な複数の蛍光染料によって試料を予め染色し、各蛍光染料を励起可能な波長を含む光を試料切断面に照射し、各蛍光染料の励起波長を含む反射光を撮像手段に入射して試料切断面の撮像を行うと共に、撮像により得た蛍光画像データを各蛍光染料の励起波長別に分離して1つの切断面に対して励起波長毎の蛍光画像を得る、ことを特徴とする試料観察方法。
引用特許:
審査官引用 (12件)
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