特許

J-GLOBAL ID：200903040720008545

曲げ試験装置

発明者： 増 田 喜 一
出願人/特許権者： 株式会社東京衡機製造所
代理人 (1件)： 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-309308
公開番号（公開出願番号）：特開平9-145576
出願日： 1995年11月28日
公開日（公表日）： 1997年06月06日
要約：

【要約】【課題】 大形の供試体であっても簡単に曲げ試験装置に搬入及び搬出することができる。【解決手段】 基台2には、一対の端部支点架台4、4と一対の中央部支点架台9、9と負荷機構6、7、8とが夫々配置されている。各端部支点架台4、4と各中央部支点架台9、9の上端には夫々供試体支持手段11が取付けられている。これらの供試体支持手段11は上端に蓋部を有し、この蓋部は開放自在である。クレーン等によって吊り下げられた鋼管等の供試体Sは、蓋部の開放状態の時に、上方から降下されて供試体支持手段11の載置部に載置される。この後に蓋部が閉止されて供試体の保持が行われる。

請求項（抜粋）：

基台と、互いに所定の間隔を隔てて上記基台に取付けられる一対の端部支点架台と、上記一対の端部支点架台の間に位置するように上記基台の中央部に取付けられる中央部支点架台と、上記基台の中央部に取付けられ上記中央部支点架台を上下に移動させる負荷機構と、上記一対の端部支点架台及び上記中央部支点架台の各々の上端部に取付けられ供試体を支持する供試体支持手段とを具備し、上記供試体支持手段の各々は上記供試体を載置する載置部と上記載置部に載置された上記供試体の上部を被覆する蓋部とから構成され、上記蓋部は上記供試体を上方から上記載置部に載置させることができるように開放自在であることを特徴とする曲げ試験装置。