特許

J-GLOBAL ID：200903040721699592

ワイヤ流れ率測定装置

発明者： ▲つる▼ 祥 司 ,  岩 澤 純 一 ,  西 出 明 彦
出願人/特許権者： 東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社 ,  株式会社東芝
代理人 (1件)： 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-202263
公開番号（公開出願番号）：特開平9-049712
出願日： 1995年08月08日
公開日（公表日）： 1997年02月18日
要約：

【要約】【課題】 ワイヤ流れ率を効率的かつ高精度に自動測定できるワイヤ流れ率測定装置を提供すること。【解決手段】 ここに提供するワイヤ流れ率測定装置は、被測定ワイヤの画像を多階調ディジタルデータとして取得する撮像手段(2)と、得られたディジタル画像データを2値化画像データに変換する2値化手段(14)と、2値化された画像データに細線化論理フィルタ処理を施すことによりワイヤ領域の細線化を行う細線化手段(22)と、細線化されたワイヤ画像に基づいてワイヤ両端間の仮想直線長さおよびその仮想直線から直角の方向に測定したワイヤの最大離れ点までの距離すなわち偏心距離を求める長さ測定手段(24)と、得られた仮想直線長さに対する偏心距離の比を演算しそれをワイヤ流れ率として出力する流れ率演算手段(26)とを備えている。

請求項（抜粋）：

被測定ワイヤの画像を多階調ディジタルデータとして取得する撮像手段と、この撮像手段によって得られたディジタル画像データを2値化画像データに変換する2値化手段と、この2値化手段により2値化された画像データに細線化論理フィルタ処理を施すことによりワイヤ領域の細線化を行う細線化手段と、この細線化手段により細線化されたワイヤ画像に基づいてワイヤ両端間の仮想直線長さおよびその仮想直線から直角の方向に測定したワイヤの最大離れ点までの距離すなわち偏心距離を求める長さ測定手段と、この長さ測定手段によって得られた仮想直線長さに対する偏心距離の比を演算しそれをワイヤ流れ率として出力する流れ率演算手段とを備えたワイヤ流れ率測定装置。

IPC (3件)：

G01B 11/16 ,  G01B 11/02 ,  G06T 7/00

FI (4件)：

G01B 11/16 H ,  G01B 11/02 H ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/70 330 G