特許

J-GLOBAL ID：200903040748452025

イオン濃度測定装置

発明者： 雨宮 功 ,  佐藤 倫子 ,  菊池 宏
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-316602
公開番号（公開出願番号）：特開平7-167818
出願日： 1993年12月16日
公開日（公表日）： 1995年07月04日
要約：

【要約】【目的】 本発明は、複雑な計算を必要とせずに妨害イオンによる影響を容易に除去でき、正確,かつ迅速に対象イオンのイオン濃度を測定することにある。【構成】 複数の電位検出型イオンセンサを用いたイオン濃度測定装置において、濃度の異なる複数の校正液における各既知イオン濃度を記憶する校正液イオン濃度記憶手段(15,21 )と、各イオンセンサ8,9,10ごとに妨害イオンの選択係数を記憶する選択係数記憶手段(15,22 )と、複数の校正液の各センサ出力電位を測定し、この各出力電位と記憶手段の各既知イオン濃度および選択係数とを所定の式に代入し、各センサの検量線式を作成する検量線式作成手段(21,22,23)と、ここで作成された各センサの検量線の式と試料液における各センサの出力電位とから当該試料液中の各イオン濃度を求めるイオン濃度演算手段23とを設けたイオン濃度測定装置である。

請求項（抜粋）：

n個(n≧2)の電位検出型イオンセンサを用いたイオン濃度測定装置において、濃度の異なる複数の校正液の各既知イオン濃度を記憶する校正液イオン濃度記憶手段と、予め各イオンセンサごとに最大(n-1)の妨害イオンの選択係数を記憶する選択係数記憶手段と、前記複数の校正液における各センサの出力電位を測定し、この測定された出力電位と前記記憶手段に記憶されている各既知イオン濃度および選択係数とを下記する(1)式に代入し、各センサの検量線の式を作成する検量線式作成手段と、この検量線式作成手段で作成される各センサの検量線式と試料液の各センサ出力電位とから当該試料液中の各イオン濃度を求めるイオン濃度演算手段と、を備えたことを特徴とするイオン濃度測定装置。 Ei =E0 i +αi log [Ci +ΣKij(Cj )Zi/Zj ] ......(1)ただし、Ei :対象イオンをiとするイオンセンサの出力電位、Ci :対象イオンiのイオン濃度、Cj :妨害イオンjのイオン濃度、E0 i ,αi :定数、Kij:妨害イオンjに対する対象イオンiの選択係数、Zi,Zj:それぞれ対象イオン,妨害イオンのイオン価数、Σ:対象イオンiに対して妨害を与えるイオンの総和を意味する。

IPC (3件)：

G01N 27/27 ,  G01N 27/26 371 ,  G01N 27/416

FI (2件)：

G01N 27/46 B ,  G01N 27/46 366 B