特許
J-GLOBAL ID：200903040753894532
陽電子断層撮影装置におけるγ線吸収体による散乱同時計数測定法及び陽電子断層撮影装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉村 暁秀 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-256985
公開番号（公開出願番号）：特開平7-113873
出願日： 1993年10月14日
公開日（公表日）： 1995年05月02日
要約：
【要約】【目的】 陽電子断層撮影装置において、被写体中の陽電子から発せられるγ線の中の散乱同時計数を測定することによって、真の同時計数を求め、生体の器官の機能画像に関連する定量性あるデータを得ることを目的とする。【構成】 陽電子断層撮影装置においては、陽電子放出核種で薬剤等を標識して体内に注入し、陽電子分布画像の時間の変化等を測ることによって細胞の新陳代謝等の機能を定量的に解析できる。本発明は、検出器の間に回転するγ線吸収体を配置することによって、陽電子画像における散乱同時計数のみを測定し、同時計数から散乱同時計数を取り除いて、真の同時計数を求めることにより、定量性の高い陽電子画像を得る。γ線のエネルギーに関係なく散乱同時計数を測定できるので閾値を下げて検出できるので装置の感度を向上させることができる。
請求項（抜粋）：
陽電子断層撮影装置の検出器と検出器の対向線内にγ線吸収体を位置させて適当な支持装置に支持させこのγ線吸収体を被写体を取囲む同心円周上に回転させながら被写体中の陽電子から発せられるγ線のうち、真の同時計数値を排除して散乱同時計数値のみを測定すると同時に、真の同時計数値と散乱同時計数値の和を同時計数し、両者の差より真の同時計数を求めることを特徴とする陽電子断層撮影装置におけるγ線吸収体による散乱同時計数測定法。
IPC (4件)：
G01T 1/161
, H01S 4/00
, A61K 49/00
, A61K 51/00
