特許
J-GLOBAL ID：200903040767322205

パターン認識装置及びその方法

発明者：
山口 修

山口 修 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (1件)： 蔦田 璋子 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-351820
公開番号（公開出願番号）：特開2003-242509
出願日： 2002年12月03日
公開日（公表日）： 2003年08月29日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 認識対象物が撮影された画像と、テーブルに予め登録したモデルとを比較して、前記認識対象物の認識を行うパターン認識装置であって、認識対象物の部分パターンの組み合わせによって認識する方法を提供する。【解決手段】 パターン認識装置は、前記認識対象物が撮影された画像を入力し、入力した画像中から複数の特徴点を抽出し、複数の特徴点の組み合わせ選択し、これら特徴点の位置や位置関係を表す基底を計算し、各基底に対応する部分パターンを前記画像から抽出し、部分パターンの幾何学的変換に関して不変なパラメータに基づいて、前記テーブルの検索場所を決定し、前記テーブルの検索場所に登録された前記モデルの部分パターンと、前記認識対象物の部分パターンの類似度を判定し、両部分パターンの類似度に基づいて、前記認識対象物が画像中に存在するという複数の仮説情報を生成し、前記認識対象物の識別、位置、姿勢等を決定する。
請求項（抜粋）：
認識対象物が撮影された画像と、予め登録したモデルとを比較して、前記認識対象物の認識を行うパターン認識装置であって、前記認識対象物が撮影された画像を入力する画像入力手段と、前記入力した画像中から複数の特徴点を抽出する特徴点抽出手段と、前記抽出された特徴点の中から複数の特徴点の組み合わせを選択する特徴点選択手段と、前記選択された複数の特徴点から、これら特徴点の位置や位置関係を表す基底を計算する基底計算手段と、前記計算された各基底に対応する前記認識対象物の部分パターンを前記画像から抽出する部分パターン抽出手段と、幾何学的変換に関して不変なパラメータを少なくとも含むインデックスパラメータに基づいて分割された複数の登録場所から構成され、かつ、前記モデルの部分パターンが、その部分パターンに関するインデックスパラメータに対応した登録場所に登録されたテーブルを記憶するテーブル記憶手段と、前記抽出された認識対象物の部分パターンに対応するインデックスパラメータに基づいて、前記記憶されたテーブルの登録場所を決定するインデックス検索手段と、前記決定されたテーブルの登録場所に登録された前記モデルの部分パターンと、前記認識対象物の部分パターンの類似度とを判定するパターン類似度計算手段と、を有することを特徴とするパターン認識装置。
IPC (2件)：
G06T 7/00 300 ,  G06T 7/00
FI (2件)：
G06T 7/00 300 A ,  G06T 7/00 300 F
Fターム (15件)：
5L096AA06 ,  5L096CA02 ,  5L096EA27 ,  5L096EA35 ,  5L096FA64 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69 ,  5L096GA51 ,  5L096GA53 ,  5L096HA09 ,  5L096JA03 ,  5L096JA11 ,  5L096JA18 ,  5L096KA15 ,  5L096KA17
引用特許：
審査官引用 (4件)
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