特許

J-GLOBAL ID：200903040788911650

プリント基板の外観検査装置及び外観検査方法

発明者： 下道 幸永
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-273782
公開番号（公開出願番号）：特開2000-097671
出願日： 1998年09月28日
公開日（公表日）： 2000年04月07日
要約：

【要約】【課題】プリント基板の表裏面を連続した搬送ライン上で自動的に検査できるプリント基板の外観検査装置を提供する。【解決手段】プリント基板を検査位置へ搬送するベルトコンベア5と、検査位置でベルトコンベア5を停止させるため、ベルトコンベア5により搬送されるプリント基板4の位置を検出する位置センサ12と、検査位置でプリント基板4を撮像する撮像部11と、撮像部11で得られる画像情報に基づいて基板の欠陥を検出する画像処理部33と、検査位置でプリント基板4を保持し、基板を180°反転させる基板反転供給機構14とを備えるプリント基板4の外観検査装置。

請求項（抜粋）：

プリント基板を検査位置へ搬送する搬送機構と、前記検査位置で前記搬送機構を停止させるため、前記搬送機構により搬送される前記プリント基板の位置を検出するセンサと、前記検査位置で前記プリント基板を撮像する撮像部と、前記撮像部で得られる画像情報に基づいて基板の欠陥を検出する画像処理部と、前記検査位置でプリント基板を保持し、基板を180°反転させる機構とを備えることを特徴とするプリント基板の外観検査装置。

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  G01N 21/88 ,  H05K 3/00

FI (3件)：

G01B 11/24 F ,  H05K 3/00 Q ,  G01N 21/88 645 B

Fターム (20件)：

2F065AA56 ,  2F065AA61 ,  2F065BB15 ,  2F065CC01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF67 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM22 ,  2F065PP15 ,  2F065QQ31 ,  2G051AA65 ,  2G051AB20 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051DA08 ,  2G051EA14 ,  2G051EC01