特許

J-GLOBAL ID：200903040800038720

マルチビーム光学装置

発明者： 中井 武彦
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 高梨 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-160669
公開番号（公開出願番号）：特開平8-005944
出願日： 1994年06月20日
公開日（公表日）： 1996年01月12日
要約：

【要約】【目的】 複数の光ビームを用いて複数の色の画像を重ね合わせて多色画像を得る際、被走査面としての感光体ドラム面の中央部から端部全域にわたって混色が良好に行なうことができるマルチビーム光学装置を得ること。【構成】 複数の光源1,2から出射した波長の異なる複数の光ビームをビーム合成手段3で合成し、該合成した光ビームを偏向反射する偏向手段4を介して結像手段5で集光しビーム分離手段6で複数の光ビームに分離した後、被走査面9上の異なった複数の領域に導光し、該複数の光ビームで該被走査面上を光走査する際、該ビーム分離手段で分離した後の複数の光ビームの光路のうち、少なくとも一つの光路中に、該被走査面上を光走査する複数の光ビームの走査線の状態がそれぞれ略一致するように該走査線の状態を補正する補正手段8を設けたこと。

請求項（抜粋）：

複数の光源から出射した波長の異なる複数の光ビームをビーム合成手段で合成し、該合成した光ビームを偏向反射する偏向手段を介して結像手段で集光しビーム分離手段で複数の光ビームに分離した後、被走査面上の異なった複数の領域に導光し、該複数の光ビームで該被走査面上を光走査する際、該ビーム分離手段で分離した後の複数の光ビームの光路のうち、少なくとも一つの光路中に、該被走査面上を光走査する複数の光ビームの走査線の状態がそれぞれ略一致するように該走査線の状態を補正する補正手段を設けたことを特徴とするマルチビーム光学装置。