特許

J-GLOBAL ID：200903040858572727

濃度計の電極性能診断方法及び診断機能付き濃度計

発明者： 新野 哲久 ,  小川 信弘 ,  上野 忠明 ,  小林 金男
出願人/特許権者： 東亜電波工業株式会社
代理人 (1件)： 倉橋 暎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-346587
公開番号（公開出願番号）：特開平7-181161
出願日： 1993年12月22日
公開日（公表日）： 1995年07月21日
要約：

【要約】【目的】 電極の感度を診断し、寿命の予測、校正日時の判断などを行ない、自動運転、特に無人運転での安定した作動、及び得られる測定値に関する信頼性の向上を図ることのできる濃度計における電極性能診断方法及び斯かる診断機能を備えた濃度計を提供する。【構成】 低濃度校正時の起電力の前回校正時との差(VZR)、校正時の1pX当たりの発生起電力(VSP)、高濃度校正時の起電力の安定性、及び高濃度校正時の応答性(RES)からなる4つの要素をルール化した条件部メンバシップ関数と、感度の判定出力となる結論部メンバシップ関数とからファジィ演算して、現在の電極の感度を求め、濃度計の電極性能を診断する。そして、得られた感度から信頼できるデータが測定できる期間を予想し、次回校正日時を設定する。

請求項（抜粋）：

低濃度校正時の起電力の前回校正時との差(VZR)、校正時の1pX当たりの発生起電力(VSP)、高濃度校正時の起電力の安定性、及び高濃度校正時の応答性(RES)からなる4つの要素をルール化した条件部メンバシップ関数と、感度の判定出力となる結論部メンバシップ関数とからファジィ演算して、現在の電極の感度を求め、その感度から信頼できるデータが測定できる期間を予想し、次回校正日時を設定することを特徴とする濃度計の電極性能診断方法。