特許

J-GLOBAL ID：200903040894387561

計器機能検証システム

発明者： ブロムバーグ、スコット、イー ,  カーコウスキイ、ジェームズ、ディ ,  ドロード、デビッド、ジェイ
出願人/特許権者： ダイアメトリクス メディカル,インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 浅村 皓 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-509739
公開番号（公開出願番号）：特表2001-515599
出願日： 1997年06月18日
公開日（公表日）： 2001年09月18日
要約：

【要約】診断計器の電子回路に電気的にリンクされるさまざまな構成部品の計器性能を、自動的にまたは手動でテストし、またモニターするデバイスおよび方法。電位差滴定演算増幅器および多重チャンネル・コネクターが含まれる電子回路の構成部品が、漏洩電流、A/D参照電圧、エッジ・コネクター・コンタクト抵抗およびバックグラウンド・ノイズについてテストされる。

請求項（抜粋）：

携帯用分析計器であって、その計器の性能を検証する検証システムを有しており、(a)ハウジングと、(b)前記ハウジングに取り付けられ、使い捨てセンサー・デバイスを受け、それに電気的に接続される多重チャンネル・コネクターと、(c)前記計器を作動させる電子回路手段であって、前記多重チャンネル・コネクターおよび電源に電気的に結合され、前記ハウジング内に収容される前記電子回路手段と、(d)内部的に発生されるテスト信号を生み出す信号発生手段および、前記内部的に発生されるテスト信号に対応する出力信号を処理する手段が含まれる計器性能検証手段であって、前記出力信号は、前記多重チャンネル・コネクターおよび前記電子回路の構成部品の少なくとも一つの性能を指示しており、前記計器性能検証手段は、前記電子回路に結合されている前記計器性能検証手段と、(e)前記計器性能検証手段から得られる結果を指示する出力手段とからなる前記計器。

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平1-314959
  
• 特開昭63-228056
  
• 特表平5-509163