特許
J-GLOBAL ID：200903040926176126
テストピ-スの検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-376249
公開番号（公開出願番号）：特開2000-193426
出願日： 1998年12月24日
公開日（公表日）： 2000年07月14日
要約：
【要約】【目的】ピンホールを有するテストピースのピンホール径を特定するための方法と該テストピースの良、不良の確認をするための方法を提供する。【構成】ピンホールを有するテストピースに光を照射し、テストピースを通過した光を照度計により測定し、測定したルックス値よりテストピースのピンホール径の判定をすることを特徴とするテストピースの検査方法。
請求項（抜粋）：
ピンホールを有するテストピースに光を照射し、テストピースを通過した光を照度計により測定し、測定したルックス値よりテストピースのピンホール径の判定を行うことを特徴とするテストピースの検査方法。
Fターム (7件)：
2F065AA00
, 2F065CC00
, 2F065DD03
, 2F065FF61
, 2F065GG03
, 2F065QQ42
, 2F065SS03
