特許
J-GLOBAL ID：200903040951040107
X線分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大橋 邦彦 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-305785
公開番号（公開出願番号）：特開平6-213836
出願日： 1993年11月11日
公開日（公表日）： 1994年08月05日
要約：
【要約】【目的】 X線回折およびけい光X線の両方が可能であり、かつ単一の放射源しか必要としないX線分析機器とする。【構成】 結晶性試料の元素的および構造的分析の両方を行う装置が、多色X線源(11)と、試料をそれがX線で照らされるように取り付ける取り付け手段(15)と、特定の波長およびエネルギーのX線を選択することが可能で、かつ前記選択されたX線を検出する手段(20)を有する1つ以上のけい光チャネル(17)と、前記試料(14)によるX線の回折に続いて前記放射源(11)において固有X線波長を選択することが可能で、かつ前記選択された固有X線を検出する手段(33)を有する回折チャネル(28)と、異なる回折角度において試料から出るX線を検出するように、前記試料(14)に対する前記回折チャネル(28)の弧状動作を制御する作動手段(32)とを備えている。
請求項（抜粋）：
結晶性試料の元素的および構造的分析の両方を行う装置において、a) 多色X線源と、b) 試料をそれがX線で照らされるように取り付ける取り付け手段と、c) 特定の波長およびエネルギーのX線を選択することが可能で、かつ前記選択されたX線を検出する手段を有する1つ以上のけい光チャネルと、d) 前記試料によるX線の回折に続いて前記放射源の固有X線波長を選択することが可能で、かつ前記選択された固有X線を検出する手段を有する回折チャネルと、e) 異なる回折角度において試料から出るX線を検出するように、前記試料に対する前記回折チャネルの弧状動作を制御する作動手段と、を備えることを特徴とする前記装置。
IPC (2件)：
G01N 23/207
, G01N 23/223
