特許

J-GLOBAL ID：200903040956610955

高分解能自動MALDIデータ分析

発明者： ホルスタイン,ウェンディ ,  スミス,ポール ,  ホップウッド,フェミア,ゲイ ,  ダフ,ジャニス,リー
出願人/特許権者： プロテオム システムズ インテレクチュアル プロパティ プロプライエタリー リミテッド
代理人 (3件)： 小野 由己男 ,  加藤 秀忠 ,  筆宝 幹夫
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-546372
公開番号（公開出願番号）：特表2005-509892
出願日： 2002年11月15日
公開日（公表日）： 2005年04月14日
要約：

【課題】 非平面表面からMALDIデータを収集できるようにする。【解決手段】 非平面表面上に置かれた試料からの質量スペクトルデータの収集方法であって、試料の全域に渡って広がる位置の配列が定義される第1ステップと、位置の配列中の複数の位置から個々の質量スペクトルが収集される第2ステップと、質量スペクトル中にピークとして出現するイオンの質量電荷比に基づいて、各位置からの個々の質量スペクトルが質量補正される第3ステップと、試料全域について複数の質量スペクトルが合計される第4ステップとを含む収集方法を提供する。

請求項（抜粋）：

非平面表面上に置かれた試料からの質量スペクトルデータの収集方法であって、 前記試料の全域に渡って広がる位置の配列が定義される第1ステップと、 前記位置の配列中の複数の位置から個々の質量スペクトルが収集される第2ステップと、 前記質量スペクトル中にピークとして出現するイオンの質量電荷比に基づいて、各位置からの個々の前記質量スペクトルが質量補正される第3ステップと、 前期試料全域について複数の前記質量スペクトルが合計される第4ステップと、 を含む、 収集方法。

IPC (5件)：

G01N27/62 ,  G01N27/64 ,  G01N33/50 ,  G01N33/68 ,  H01J49/26

FI (6件)：

G01N27/62 V ,  G01N27/62 D ,  G01N27/64 B ,  G01N33/50 Z ,  G01N33/68 ,  H01J49/26

Fターム (13件)：

2G045BA13 ,  2G045DA30 ,  2G045DA36 ,  2G045FA36 ,  5C038EE02 ,  5C038EF17 ,  5C038EF25 ,  5C038EF31 ,  5C038GG07 ,  5C038GH05 ,  5C038HH02 ,  5C038HH21 ,  5C038HH28