特許

J-GLOBAL ID：200903040962261245

光学的分析装置用測定チップ

発明者： 永田 良平 ,  中村 瑠奈
出願人/特許権者： 大日本印刷株式会社
代理人 (1件)： 平木 祐輔 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-072460
公開番号（公開出願番号）：特開平11-271212
出願日： 1998年03月20日
公開日（公表日）： 1999年10月05日
要約：

【要約】【課題】 チップ表面との親和性が低い液滴Pを効果的に試料液室に保留することのできる光学的分析装置用測定チップAを得る。【解決手段】 透光性基板1と、該透光性基板の一面上に形成される試料液室7とを有し、該試料液室7は、閉ループ状の隔壁6によって区画されている。試料液室7内に滴下された液滴の自由移動は、閉ループ状の隔壁6により確実に抑制される。閉ループ状の隔壁6は、好ましくは、シリコンRTVゴムにより形成する。

請求項（抜粋）：

透光性基板と、該透光性基板の一面上に形成される試料液室とを有し、該試料液室は、閉ループ状の隔壁によって区画されていることを特徴とする光学的分析装置用測定チップ。

IPC (3件)：

G01N 21/01 ,  G01N 21/03 ,  G01N 21/27

FI (3件)：

G01N 21/01 B ,  G01N 21/03 Z ,  G01N 21/27 C

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平4-353747
  
• 特開平3-164195
  
• 特開平4-353747
  
• 特開平3-164195