特許

J-GLOBAL ID：200903040975352339

平面表示装置の製造方法、及びこのためのバックライトの検査方法

発明者： 大園 司
出願人/特許権者： 株式会社東芝 ,  東芝電子エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 蔦田 璋子 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-148447
公開番号（公開出願番号）：特開2002-341345
出願日： 2001年05月17日
公開日（公表日）： 2002年11月27日
要約：

【要約】【課題】 面光源31と表示パネル本体4との間に光学シート2を配置した透過型平面表示装置10の製造方法及びこのためのバックライトユニット3の検査方法において、光学シート2の配置個所における異物やキズの検査を確実かつ容易に行うことができるものを提供する。【解決手段】バックライトユニット3を振動台12に載置して、上下に振動させるとともに、バックライトユニット3のフレーム36の上面付近に配置した管状光源11から斜光照明を行う。このとき、こバックライトユニット3の管状光源33は非点灯状態とする。斜光のみの照明により異物5が輝点として明瞭に捉えられるとともに、上下の適当な振動により、光学シート21〜23の配置個所におけるあらゆる深さ位置にある異物5やキズを容易に発見することができる。

請求項（抜粋）：

面光源の出射面を覆うように光学シートを配置する工程と、前記出射面または前記光学シート上のキズまたは異物を検出する検査工程と、この検査工程の後、マトリクス状に画素が配列された透過型の表示パネルを、前記光学シートの上に配置する工程とを含む平面表示装置の製造方法において、前記検査工程の際、前記光学シートの上方側からの照明または前記面光源の点灯による照明の下で、前記面光源及び前記光学シートを前記光学シートに対してほぼ垂直に振動させることを特徴とする平面表示装置の製造方法。

IPC (5件)：

G02F 1/13357 ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 336 ,  G09F 9/00 342 ,  G09F 9/00 352

FI (5件)：

G02F 1/13357 ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 336 J ,  G09F 9/00 342 Z ,  G09F 9/00 352

Fターム (17件)：

2H088FA11 ,  2H088HA28 ,  2H088MA20 ,  2H091FA21Z ,  2H091FA23Z ,  2H091FA41Z ,  2H091LA30 ,  5G435AA19 ,  5G435BB12 ,  5G435BB15 ,  5G435EE27 ,  5G435FF06 ,  5G435FF08 ,  5G435GG24 ,  5G435HH04 ,  5G435KK05 ,  5G435KK07