特許

J-GLOBAL ID：200903040981113869

アナログ特性データ作成方法

発明者： 早川 佳寿
出願人/特許権者： 沖電気工業株式会社
代理人 (1件)： 柿本 恭成
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-158595
公開番号（公開出願番号）：特開平10-011471
出願日： 1996年06月19日
公開日（公表日）： 1998年01月16日
要約：

【要約】【課題】 回路評価に用いるアナログ特性データを短時間で作成する。【解決手段】 解析対象デバイスを特定するメーカー名や品番等のデバイス情報と、温度や電源電圧等の解析条件と、デバイスの電気的定数と、内部バッファの情報とを含むコマンドデータ2が作成される。アナログ特性データ作成用プログラム1がコマンドデータ2を読出し、回路シミュレータ用入力データ3を作成する。この入力データ3が回路シミュレータ4に与えられ、回路シミュレータ4は、入力データ3に基くトランジスタモデル5を用いて、入力データ3で指示されたに解析条件の回路シミュレーションを、自動的に繰り返し行なう。回路シミュレーション結果6が、アナログ特性データ作成プログラム1に渡され、アナログ特性データ7が作成される。

請求項（抜粋）：

解析対象デバイスを特定するデバイス情報と、該デバイスにおけるアナログ特性の解析条件と、該デバイスの電気的定数と、該デバイスの複数の端子に接続されたデバイス内部のバッファの情報とを含むコマンドデータを作成しておき、前記コマンドデータに基づき、前記デバイスの各端子における前記解析条件毎の電圧対電流特性または応答速度特性を含む電圧対電流特性を求める回路シミュレーションを連続して繰り返し実行し、前記デバイス全体のアナログ特性データを作成するアナログ特性データ作成方法。