特許
J-GLOBAL ID：200903040982341903
ビット誤り試験方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
茂泉 修司
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2001003265
公開番号（公開出願番号）：WO2002-087138
出願日： 2001年04月17日
公開日（公表日）： 2002年10月31日
要約：
1台の信号発生装置と1台のビット誤り測定装置を用いて複数の被測定装置を並行して試験することができる方法及び装置を提供するため、試験用の直列信号を、複数の被測定装置に対するチャネルと冗長チャネルとに対応した並列信号に変換して各被測定装置に分配し、該冗長チャネルの通過信号を、各被測定装置の位置関係を特定するためのチャネル判別信号に変換し、各被測定装置の出力信号及び該チャネル判別信号を、該分配時の方式に対応して多重し、該多重した信号からビット誤りを測定するとともに該チャネル判別信号から該ビット誤りに係る各被測定装置を検出する。
請求項（抜粋）：
試験用の直列信号を、複数の被測定装置に対するチャネルと冗長チャネルとに対応した並列信号に変換して各被測定装置に分配し、
該冗長チャネルの通過信号を、各被測定装置の位置関係を特定するためのチャネル判別信号に変換し、
各被測定装置の出力信号及び該チャネル判別信号を、該分配時の方式に対応して多重し、
該多重した信号からビット誤りを測定するとともに該チャネル判別信号から該ビット誤りに係る各被測定装置を検出する、
ステップを備えたことを特徴とするビット誤り試験方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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