特許

J-GLOBAL ID：200903040994102041

イオン濃度測定システム

発明者： 冨村 真武
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 三好 秀和 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-200739
公開番号（公開出願番号）：特開平8-062172
出願日： 1994年08月25日
公開日（公表日）： 1996年03月08日
要約：

【要約】【目的】 感応層の長寿命化および安定化が可能で、かつ、電極流路内の汚染を減少させることが可能なイオン濃度測定システムを提供する。【構成】 中心に細径孔を有する絶縁基体63a,63bと、中心に細径孔を有し、その内周面にイオン感応層を有する複数のイオン選択性電極65,67,69と、中心に細径孔を有する比較電極87とを、絶縁スペーサ93を介し、かつ、各々の細径孔を試料液の流路となるように連結したマルチイオン電極51を備えるイオン濃度測定システム50において、前記複数のイオン選択電極65,67,69の内、少なくとも一つの反応層をその反応物自体を主原料として加圧成形し、かつ、中心部に細径孔を有することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

中心に細径孔を有する板状基体と、中心に細径孔を有し、その内周面にイオン感応層を有する複数のイオン選択性電極と、中心に細径孔を有する比較電極とを、絶縁体を介し、かつ、各々の細径孔を試料液の流路となるように連結したマルチイオン電極を備えるイオン濃度測定システムにおいて、前記複数のイオン選択電極の内、少なくとも一つの反応層をその反応物自体を主原料として加圧成形し、かつ、中心部に細径孔を有することを特徴とするイオン濃度測定システム。

IPC (3件)：

G01N 27/28 321 ,  G01N 27/414 ,  G01N 27/416

FI (3件)：

G01N 27/30 301 V ,  G01N 27/46 351 K ,  G01N 27/46 351 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

• マルチイオンセンサ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-074872   出願人：株式会社東芝
• 特開昭57-029939
  
• 特開昭59-038647
  
• 特開昭63-026569