特許

J-GLOBAL ID：200903041004143799

材料変質度の測定装置

発明者： 福原 幹夫 ,  桑野 芳行
出願人/特許権者： 東芝タンガロイ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-113718
公開番号（公開出願番号）：特開平8-029399
出願日： 1994年07月15日
公開日（公表日）： 1996年02月02日
要約：

【要約】【目的】 超音波を利用して材料表層部における材料変質度を非破壊で定量的に評価できる材料変質度の測定装置を提供する。【構成】 本発明の材料変質度の測定装置は、被測定材料3に対して、互い離間して配置される超音波の発振器1および受振器2を備え、この発振器1および受振器2には、ケ-ブル4、5によって、超音波の発振・受振機6が接続される。この超音波の発振・受振機6は、横波の剪断水平波(SH波)からなる超音波を発振および受振するものであり、受振波の減衰係数を解析処理する計算機7に接続される。前記横波の剪断水平波(SH波)からなる超音波は、その周波数が0.5〜100MHz好ましくは0.5〜50MHzの範囲が好適し、前記発振器1および受振器2に備えられた探触子12は、被測定材料3の種類に対応して発振角および受振角度を調整できることが好ましい。

請求項（抜粋）：

超音波の発振器1および受振器2の利用によって被測定材料の表層部における変質度を定量的に評価する材料変質度の測定装置であって、前記発振器1および受振器2は、離間して配置されるとともに、横波の剪断水平波(SH波)からなる超音波が超音波の発振・受振機6によって発振および受振されるようになっており、しかも、この超音波の発振・受振機6には、受振した超音波音圧の減衰係数を解析処理する計算機7が接続されていることを特徴とする材料変質度の測定装置。