特許

J-GLOBAL ID：200903041062672386

硬さ試験機

発明者： 辻井 正治 ,  輿水 文比古
出願人/特許権者： 株式会社アカシ
代理人 (1件)： 荒船 博司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-307331
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124681
出願日： 1999年10月28日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：

【要約】【課題】 試料の形状に影響されることなく硬さ測定が可能で、且つ測定精度を維持するための調整が容易な硬さ試験機を提供する。【解決手段】 力を発生させる力発生部(2)と、前記力発生部で発生した力を圧子(41)に伝達する力伝達部(4)と、前記圧子と連動する圧子電極板(61)と、前記圧子電極板をすき間を有しつつ挟む位置に設けられたベース電極板(62、63)と、を備え、前記圧子電極板の変位に基づく前記圧子電極板と前記ベース電極板間の電気容量の変化により試料(S)に対する前記圧子の押し込み深さを計測する押し込み深さ計測手段6(例えば、押し込み深さ計測部)と、を備えた硬さ試験機において、前記圧子が前記試料と接触した状態で、前記ベース電極板を移動させるベース電極板移動手段5、7、8、81と、を備えた。

請求項（抜粋）：

力を発生させる力発生部と、前記力発生部で発生した力を圧子に伝達する力伝達部と、前記圧子と連動する圧子電極板と、前記圧子電極板をすき間を有しつつ挟む位置に設けられたベース電極板と、を備え、前記圧子電極板の変位に基づく前記圧子電極板と前記ベース電極板間の電気容量の変化により試料に対する前記圧子の押し込み深さを計測する押し込み深さ計測手段と、を備えた硬さ試験機において、前記圧子が前記試料と接触した状態で、前記ベース電極板を移動させるベース電極板移動手段を備えたことを特徴とする硬さ試験機。