特許

J-GLOBAL ID：200903041065695468

渦電流検査ヘッド、渦電流検査ヘッドの製造方法および渦電流検査方法

発明者： ベッカー、エーリッヒ ,  ローマン、ハンス-ペーター ,  ダールマンス、ガブリエル ,  ルートヴィッヒ、クラウス ,  ベール、ルートヴィッヒ
出願人/特許権者： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-519296
公開番号（公開出願番号）：特表2001-522046
出願日： 1998年10月22日
公開日（公表日）： 2001年11月13日
要約：

【要約】本発明は、ゾンデコイル装置(7)が箔保持体(8)における箔(4)の上に配置されている渦電流検査ヘッド(1)に関する。箔保持体(8)は検査すべき対象物の形状に整合している。迅速で故障の少ない渦電流検査が可能にされる。本発明は渦電流検査ヘッド(1)の製造方法ならびに渦電流検査方法にも関する。

請求項（抜粋）：

検査表面(3)を有する検査対象物(2)の渦電流検査のために構成された検査ヘッド(1)において、箔(4)の中またはその上に配置され励起コイル(5)および検出コイル(6)を含んでいるゾンデコイル装置(7)と、箔(4)が配置されている箔面(9)を有する箔保持体(8)とを含み、その箔面(9)が検査表面(3)にまたは検査表面(3)の一部分に、箔(4)が間隙なしに検査表面(3)上を案内されるように整合している渦電流検査ヘッド(1)。

Fターム (9件)：

2G053AA11 ,  2G053AB14 ,  2G053AB21 ,  2G053BA24 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053DA01 ,  2G053DB01 ,  2G053DB19