特許
J-GLOBAL ID：200903041081373624
材料試験機
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-122277
公開番号（公開出願番号）：特開平6-331520
出願日： 1993年05月25日
公開日（公表日）： 1994年12月02日
要約：
【要約】【目的】 材料試験に際して荷重変位曲線を正確に表示すると共に、X-Yプロッタ等の機械的動作を含む表示部を用いた場合であっても、少ないメモリ容量でしかも荷重変位曲線を短時間で描くことができるようにする。【構成】 材料試験機の機構部1で検出された荷重及び変位の測定データはサンプリング手段2でサンプリングされデータ処理部3を介してデータ表示部5に表示される。かかる場合、制御手段5は一連の試験中に設定または変更すべきサンプリング間隔の情報を情報提供手段4から得て、試験前あるいは試験中においてサンプリング手段及びデータ処理部3に対してサンプリングすべき間隔を指示し、サンプリング手段2は指示された間隔で荷重及び変位データをサンプリングし、データ処理部3は指示された間隔に基づいて、所定スケールで荷重変位曲線を表示するようデータ表示部6に表示指示を与える。
請求項（抜粋）：
試験片に加える荷重を検出する荷重検出手段と試験片の変位を検出する変位検出手段とを備え、試験片に加えられた荷重とこれに伴う変位をそれぞれ検出して得られる各検出データに基づいてデータ表示部に荷重変位曲線を表示する材料試験機において、前記荷重検出手段と変位検出手段からの信号を指示された間隔でサンプリングするサンプリング手段と、前記サンプリング手段でサンプリングされたデータを前記データ表示部に対してサンプリングされた間隔に基づいて所定の時間スケールで表示するよう指示するデータ処理部と、一連の試験中に設定または変更すべきサンプリング間隔の情報を提供する情報提供手段と、前記情報提供手段により提供される情報に基づいて、前記サンプリング手段及びデータ処理手段に対して試験前あるい試験中にサンプリングすべき間隔を指示する制御手段と、を備えたことを特徴とする材料試験機。
引用特許：
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