特許

J-GLOBAL ID：200903041213794233

小型電子部品用測定装置

発明者： 井上 浩樹
出願人/特許権者： ローム株式会社
代理人 (1件)： 安倍 逸郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-191172
公開番号（公開出願番号）：特開平9-021830
出願日： 1995年07月03日
公開日（公表日）： 1997年01月21日
要約：

【要約】【目的】 従来1度で測定することができなかった電子部品についても1度の動作で測定可能とする。小さな電子部品についても4端子測定を可能とする。測定に要する時間を短縮し、かつ、その測定精度を向上させる。【構成】 基板11の下方に配置された各小型電子部品15について各プローブ14を接触させて、その電気特性等を測定・検査する。測定端子13を基板11の表面側のみならず、裏面側にも配設し、かつ、それらを交互に配設しているため、プローブ14の間隔は可能な限り小さくすることができる(従来の半分)。よって、サイズが小さい各小型電子部品15も複数個一時に測定・検査することができる。また、この装置では小型電子部品15の4端子測定も可能となる。

請求項（抜粋）：

測定用の回路が配設された基板と、この基板の側縁から先端部が突出するようにこの基板に実装された複数の測定端子と、を備えた小型電子部品用測定装置において、上記複数の測定端子を基板の表裏面にそれぞれ配した小型電子部品用測定装置。

IPC (3件)：

G01R 1/073 ,  G01R 31/26 ,  H01R 9/09

FI (3件)：

G01R 1/073 D ,  G01R 31/26 J ,  H01R 9/09 Z

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭56-066053
  
• 特開昭52-091646