特許

J-GLOBAL ID：200903041268265019

多層塗装膜の付着量測定方法および装置

発明者： 松浦 直樹 ,  柴田 誠也 ,  田中 明 ,  福田 重雄 ,  西山 博樹 ,  田中 満
出願人/特許権者： 理学電機工業株式会社 ,  イゲタ鋼板株式会社 ,  川鉄鋼板株式会社 ,  大洋製鋼株式会社 ,  株式会社淀川製鋼所
代理人 (1件)： 杉本 修司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-270044
公開番号（公開出願番号）：特開平5-079826
出願日： 1991年09月19日
公開日（公表日）： 1993年03月30日
要約：

【要約】【目的】たとえば亜鉛めっき鋼板に塗布したプライマおよびペイントの付着量を、非破壊で正確かつ容易に測定することである。【構成】亜鉛めっき鋼板13などの下地基板に下層の塗装膜(プライマ)14および上層の塗装膜(ペイント)15を有する被測定試料10の上層の塗装膜15の測定方法および装置であって、塗装膜15の表面に放射線B1を照射して、この放射線B1を受けた被測定試料10からのコンプトン散乱線Bcの強度と、亜鉛の蛍光X線B2および下層の塗装膜14からのストロンチウムの蛍光X線B3の強度とを測定し、この測定した3つの強度に基づいて上層の塗装膜15の付着量を演算する。

請求項（抜粋）：

下地基板上に下層および上層の塗装膜を有する被測定試料の塗装膜の表面に放射線を照射して、この放射線を受けた被測定試料から、コンプトン散乱線の強度と、上記下地基板からの蛍光X線の強度と、上記下層の塗装膜からの蛍光X線の強度とを測定し、これらの測定したコンプトン散乱線および上記2種類の蛍光X線の強度に基づいて上層の塗装膜の付着量を演算する多層塗装膜の付着量測定方法。

IPC (2件)：

G01B 15/02 ,  G01N 23/223

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開昭64-041810