特許
J-GLOBAL ID：200903041277751147
測距装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-088336
公開番号（公開出願番号）：特開平5-257061
出願日： 1992年03月13日
公開日（公表日）： 1993年10月08日
要約：
【要約】【目的】 コストアップすること無しに超至近距離側での測距情報を正確に求める。【構成】 測距対象物が超至近距離範囲に位置する際には、選択手段6を制御することにより、複数の内のいずれか一つの投光手段(4C)を選択すると共にこの投光手段(4C)に対応する受光手段(5C)及びこれに隣接する近距離側の受光手段(5L)を選択し、これらを駆動して測距動作を行い、選択された各受光手段からの出力の比をとることにより測距情報を算出する演算手段7とを設けている。
請求項（抜粋）：
測距対象物へ向けて光を投射する複数の投光手段と、前記投射光の測距対象物での反射光を受光する、それぞれが基線長方向に隣接して配置される複数の受光手段と、前記複数の投光手段及び受光手段を選択する選択手段とを備えた測距装置において、測距対象物が超至近距離範囲に位置する際には、前記選択手段を制御することにより、複数の内のいずれか一つの投光手段を選択すると共にこの投光手段に対応する受光手段及びこれに隣接する近距離側の受光手段を選択し、これらを駆動して測距動作を行い、選択された各受光手段からの出力の比をとることにより測距情報を算出する演算手段とを設けたことを特徴とする測距装置。
IPC (3件)：
G02B 7/32
, G01C 3/06
, G03B 13/36
G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
