特許

J-GLOBAL ID：200903041289797703

断面形状計測装置

発明者： 山本 光
出願人/特許権者： 日立建機株式会社
代理人 (1件)： 永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-102519
公開番号（公開出願番号）：特開平9-287926
出願日： 1996年04月24日
公開日（公表日）： 1997年11月04日
要約：

【要約】【課題】 物体の反射率の違いによる像のにじみやとぎれを生じることなく物体の断面形状を得る。【解決手段】 互いに異なる撮影条件により、物体の光断面像を表す複数の撮像データを得る。各撮像データについて、同一ライン上における輝度を求め、この輝度が最大となるラインの撮像データを画像メモリに格納する。撮像データ上の全てのラインについて、最大輝度となるデータを画像メモリに格納し、これらを合成して最終的な断面像を得る。

請求項（抜粋）：

物体外形の凹凸を表す外形像を撮像し、該外形像に画像処理を施すことにより前記物体の断面形状を得る断面形状測定装置において、それぞれ異なる撮影条件により撮像された複数の外形像を格納可能な画像記憶手段と、前記複数の外形像から、該各外形像の互いに対応する複数の領域ごとに、該領域内の領域データを抽出する抽出手段と、該抽出された複数の領域データから、前記各領域ごとに一つのデータを選択する選択手段と、前記各領域ごとの前記一つのデータを合成して前記物体の断面形状を表す断面像を得る合成手段とを備えたことを特徴とする断面形状計測装置。