特許
J-GLOBAL ID：200903041292916756
電子式方位計
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉村 次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-352157
公開番号（公開出願番号）：特開平6-174471
出願日： 1992年12月10日
公開日（公表日）： 1994年06月24日
要約：
【要約】【目的】 磁気抵抗素子のヒステリシス現象に伴なう、測定方位の誤差を回避できる電子式方位計を提供する。【構成】 制御部2により各回路部を制御する構成とし、計測に先立っては、必ず、コンデンサ7からバイアス磁界用コイルL1又はL2に大電流を流して磁気抵抗素子MR1〜MR4を磁気的に飽和せしめ、その後、この大電流を停止して、方位の計測をすることにより、磁気抵抗素子MR1〜MR4の磁気的履歴を一定にして計測するようにした。
請求項（抜粋）：
磁気検出手段と、夫々方向の異なる複数のバイアス磁界を印加するバイアス磁界発生手段と、このバイアス磁界発生手段により複数の方向のバイアス磁界が印加された時の前記磁気検出手段の出力から方位を算出する方位算出手段と、前記磁気検出手段を磁気飽和させる磁気飽和手段とを備えることを特徴とする電子式方位計。
IPC (4件)：
G01C 17/32
, G01C 17/38
, G01R 33/06
, G01V 3/40
