特許
J-GLOBAL ID：200903041334060814
2次元配列レンズアレイのMTF測定方法及び測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
二瓶 正敬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-160703
公開番号（公開出願番号）：特開2000-346745
出願日： 1999年06月08日
公開日（公表日）： 2000年12月15日
要約：
【要約】【課題】 2次元配列レンズアレイのMTFを正確かつ簡単に測定することができる2次元配列レンズアレイのMTFの測定方法及び測定装置を提供する。【解決手段】 所定の格子パターン21を測定対象である2次元配列レンズアレイ22によりスクリーン23に結像させ、スクリーンに結像された格子像を撮像手段24で撮像することにより、2次元配列レンズアレイのMTFを測定するに際し、格子を格子の明暗の繰り返し方向に、格子の明暗の繰り返し周期の1/2以下の一定の間隔で、格子の明暗の繰り返し周期以上の距離を移動させ、格子の明暗の繰り返し周期の1/2以下の一定の間隔で移動する度に、結像された格子像を撮像する。
請求項（抜粋）：
照明手段により所定の格子を2次元配列レンズアレイによりスクリーンに結像させ、前記スクリーンに結像された格子像を撮像することにより、前記2次元配列レンズアレイのMTFを測定する方法であって、前記格子を前記格子の明暗の繰り返し方向に、前記格子の明暗の繰り返し周期の1/2以下の一定の間隔で、前記格子の明暗の繰り返し周期以上の距離だけ移動させ、前記格子の明暗の繰り返し周期の1/2以下の一定の間隔で移動する度に、結像された前記格子像を撮像し、撮像された画像データからMTFを求める2次元配列レンズアレイのMTF測定方法。
引用特許：
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