特許

J-GLOBAL ID：200903041337771991

離散的ピクセル型検出器の欠陥のあるピクセル領域を識別するための方法及び装置

発明者： スーザン・ポージャヴィッド
出願人/特許権者： ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
代理人 (1件)： 生沼 徳二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-302119
公開番号（公開出願番号）：特開2000-135210
出願日： 1999年10月25日
公開日（公表日）： 2000年05月16日
要約：

【要約】【課題】 X線イメージング装置に用いられるような離散的ピクセル型検出器内の欠陥のあるピクセルを識別する手法を提供する。【解決手段】 離散的ピクセル型検出器の潜在的に欠陥のあるピクセル領域が、一連の暗画像及び一連の照射画像の分析により識別される。X線装置の場合には、暗画像は検出器にあたる放射線がゼロ又はほとんどない状態で作成され、他方の照射画像は検出器表面全体に均一のレベルの放射線があたる状態で作成される。検出器からの出力信号は一連の暗画像の全体及び一連の照射画像全体にわたって平均が取られる。この平均値に対し分析を行い、一貫しない出力信号を発生したピクセルと、基準レベルからのズレが所望の値を超える出力信号を発生したピクセルと、近隣のピクセルの出力信号からのズレが所望の値を超える出力信号を発生したピクセルとを識別する。マスクを作成して欠陥ピクセルを参照できるようにし、これをその後の画像処理で用いる。

請求項（抜粋）：

離散的ピクセル型画像検出器の欠陥のあるピクセル領域を識別するための方法であって、(a)一連の暗画像内の各ピクセル領域を表す検出器による出力に基づいた複数の第1の信号を発生するステップと、(b)前記複数の第1の信号を複数の第1の所望のパラメータ値と比較して、第1組の欠陥のあるピクセル領域を識別するステップと、(c)一連の照射画像内の各ピクセル領域を表す検出器による出力に基づいた複数の第2の信号を発生するステップと、(d)前記複数の第2の信号を複数の第2の所望のパラメータ値と比較して、第2組の欠陥のあるピクセル領域を識別するステップと、を含んでいる前記方法。

IPC (2件)：

A61B 6/00 300 ,  H01L 31/09

FI (2件)：

A61B 6/00 300 M ,  H01L 31/00 A