特許
J-GLOBAL ID：200903041345864028
スピン共鳴を用いた検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-331392
公開番号（公開出願番号）：特開平7-184876
出願日： 1993年12月27日
公開日（公表日）： 1995年07月25日
要約：
【要約】【目的】 スピン共鳴信号を検出するアンテナの穿刺を行ない、安全に検査ができるスピン共鳴を用いた検査装置を提供する。【構成】 スピン信号の検出部31は超音波探触子32と組合せられ使用される。短冊状の圧電素子33を制御して、検査対象の特定領域を超音波ビーム走査して、検査対象の内部構造をほぼリアルタイムで画像化する。スピン信号の検出部31の先端部にダイポールアンテナ35が組み込まれ、検出部31が探触子の空隙34を通して検査対象内に穿刺される。超音波断層像装置の探触子32を動かして検査対象内部を監視しながら、送受信アンテナを穿刺して検査対象内で移動し、穿刺近傍部から高いS/Nでスピン共鳴信号を検出する。【効果】 アンテナを検査部位近傍に安全に近接できる。
請求項（抜粋）：
静磁場及び高周波磁場の各磁場発生手段と、検査対象からのスピン共鳴信号を検出する信号検出手段と、該信号検出手段の検出信号に対し演算を行う計算機および該計算機による演算結果の出力手段とを有し、超音波断層装置の超音波探触子と組み合わせて用いられる穿刺針の一部に、前記高周波磁場発生手段と前記信号検出手段を兼ねる受送信アンテナが配置され、前記穿刺針が穿刺された前記検査対象の穿刺部位近傍からの前記スピン共鳴信号の検出を行うことを特徴とするスピン共鳴を用いた検査装置。
FI (2件)：
A61B 5/05 350
, A61B 5/05 355
