特許
J-GLOBAL ID：200903041351986763
異常陰影候補の検出方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柳田 征史 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-257977
公開番号（公開出願番号）：特開平10-099305
出願日： 1996年09月30日
公開日（公表日）： 1998年04月21日
要約：
【要約】【課題】 異常陰影候補の検出装置において、腫瘤陰影等の異常陰影が画像端部に存在している場合にもその異常陰影を異常陰影候補として安定的に検出する。【解決手段】 記憶手段から入力された画像データの端部を、端部画像複製手段19により折り返し複製し、この複製して得られた複製画像部分の画像データをも用いて指標値の算出、指標値の平均値の算出、この平均値のうち最大値の算出を行なうことにより、画像端部に存在し、アイリスフィルター処理いおける方向線の終点が、検出しようとする腫瘤陰影の大きさに応じた距離Rmaxまで延びない腫瘤陰影をも的確に腫瘤陰影候補として検出する。
請求項（抜粋）：
(1)被写体の放射線画像を表す画像データの全画素について、該画像データに基づく各画素ごとの勾配ベクトルを算出し、(2)前記全画素のうち任意の注目画素を設定し、(3)前記注目画素を中心とする、所定の角度間隔で隣接する複数の放射状の方向線を前記画像上に設定し、(4)該各方向線ごとに、前記注目画素から検出しようとする異常陰影候補の最大の大きさに応じた距離の範囲内にある、該方向線上の各画素について、各画素の勾配ベクトルと該方向線の延びる方向とのなす角度θilに基づく指標値cosθilをそれぞれ求め、(5)始点を注目画素、終点を前記検出しようとする異常陰影候補の最小の大きさに応じた距離から最大の大きさに応じた距離まで変化させて、該始点から該終点の範囲内にある前記方向線上の各画素の前記指標値cos θilの平均値を、各方向線ごとに求め、(6)前記方向線ごとの前記終点を変化させて求めた前記指標値cos θilの平均値のうち最大値を求め、(7)前記方向線ごとの前記最大値を前記複数の方向線のすべてについて加算平均して前記注目画素についての前記勾配ベクトル群の集中度の値を算出し、(8)前記(7)で求めた勾配ベクトル群の集中度の値と予め設定された閾値とを比較し、(9)前記勾配ベクトル群の集中度の値が前記閾値以上であるときは、前記注目画素が異常陰影候補の領域内に存在すると判定し、前記閾値未満であるときは前記注目画素が異常陰影候補の領域内に存在しないと判定し、(10)前記注目画素を全画素について順次代えて前記(3)から(9)の操作を繰り返して、各画素が異常陰影候補の領域内に存在するか否かを判定することにより、前記放射線画像から前記異常陰影候補の領域を抽出する異常陰影候補の検出方法において、前記放射線画像の端縁から前記異常陰影候補の最大の大きさに応じた距離までの範囲の画像部分を、該放射線画像の端縁を対称軸として複製したうえで、前記(1)からの操作を行なうことを特徴とする異常陰影候補の検出方法。
IPC (3件)：
A61B 6/00
, G03B 42/02
, G06T 1/00
A61B 6/00 350 D
, G03B 42/02 B
, G06F 15/62 330 Z
, G06F 15/62 390 A
