特許

J-GLOBAL ID：200903041354487377

円筒孔検査装置

発明者： 渡辺 謙資 ,  山田 義人
出願人/特許権者： 東芝三菱電機産業システム株式会社
代理人 (2件)： 高田 守 ,  高橋 英樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-075895
公開番号（公開出願番号）：特開2008-233715
出願日： 2007年03月23日
公開日（公表日）： 2008年10月02日
要約：

【課題】孔内面の鋳巣、疵、バリ等の欠陥をS/N良く検出できる円筒孔検査装置を得る。【解決手段】円筒の孔内面を照明するための照明手段4と、照明手段よりの照明光を伝達する導光手段5と、導光手段よりの照明光を孔内面に照射する照明照射手段6と、画像反射手段7を有し、照明照射手段より照射される照明の照射角度と孔内面にて反射されて画像反射手段に入射する画像の入射角度とが略正反射となるよう構成された内視鏡8と、内視鏡及び画像伝達手段を介して撮像手段より撮像された孔の内面の画像から欠陥を検出する欠陥検出手段10とを備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

円筒の孔内面を照明するための照明手段と、 前記照明手段よりの照明光を伝達する導光手段と、 前記導光手段よりの照明光を孔内面に照射する照明照射手段と、 画像反射手段を有し、前記照明照射手段より照射される照明の照射角度と孔内面にて反射されて前記画像反射手段に入射する画像の入射角度とが略正反射となるよう構成された内視鏡と、 前記内視鏡及び画像伝達手段を介して撮像手段より撮像された孔の内面の画像から欠陥を検出する欠陥検出手段と、 を備えた円筒孔検査装置。

IPC (3件)：

G02B 23/26 ,  G01N 21/954 ,  G01N 21/84

FI (3件)：

G02B23/26 B ,  G01N21/954 A ,  G01N21/84 A

Fターム (19件)：

2G051AA07 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051BB01 ,  2G051BB07 ,  2G051BB11 ,  2G051BB17 ,  2G051CA04 ,  2G051CA06 ,  2G051CB01 ,  2G051CC01 ,  2G051CC11 ,  2G051EA25 ,  2H040AA02 ,  2H040BA13 ,  2H040CA11 ,  2H040CA12 ,  2H040CA27 ,  2H040GA01

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特開平2-95205号公報
  
• 特許第3591080号公報