特許
J-GLOBAL ID：200903041371667338
蛍光ガラス線量計測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-275721
公開番号（公開出願番号）：特開平8-114674
出願日： 1994年10月14日
公開日（公表日）： 1996年05月07日
要約：
【要約】【目的】 蛍光ガラス線量計測定装置のレンジ切替えに要する時間を短縮し、測定処理能力を向上させる。【構成】 光電子増倍管10には高電圧制御回路20が接続され、この高電圧制御回路20が、前記光電子増倍管10に印加する電圧を複数のレンジに分けて制御するように構成されている。一方、演算処理回路21は、1回の測定で所定の複数の範囲の判断を行い、適切な測定レンジを判断して、前記高電圧制御回路20に設定信号を送り、高電圧制御回路20によって光電子増倍管10に所定の電圧を印加することができるように構成されている。
請求項（抜粋）：
励起紫外線パルスを発生する窒素ガスレーザと、上記励起紫外線パルスの一部を放射線被曝蛍光ガラスに照射すると共に、前記励起紫外線パルスの一部を標準蛍光ガラスに照射する光学系と、前記励起紫外線パルスの照射により前記放射線被曝蛍光ガラスに励起された蛍光パルスを検出する光電子増倍管と、前記励起紫外線パルスの照射により前記標準蛍光ガラスに励起された蛍光パルスを検出するフォトダイオードと、前記光電子増倍管に印加するダイノード電圧を、複数のレンジに分けて制御する高電圧制御回路と、前記フォトダイオード及び光電子増倍管により検出された前記各ガラスの励起蛍光パルス成分から、適切なレンジを選択し、その設定信号を前記高電圧制御回路に送ると共に、前記放射線被曝蛍光ガラスの被曝線量を求める演算処理回路とを具備したことを特徴とする蛍光ガラス線量計測定装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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