特許
J-GLOBAL ID：200903041391627766
分光分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岩佐 義幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-022442
公開番号（公開出願番号）：特開平6-235660
出願日： 1993年02月10日
公開日（公表日）： 1994年08月23日
要約：
【要約】【目的】 分光分析の際に必要な波長だけを測定することを容易にし、測定波長域の微調整を可能にする。【構成】 光学系から集光された入射光1を分散させるシリンドリカルレンズ2と固体撮像素子4の前面においたストライプフィルタ3ならびにストライプフィルタ3と固体撮像素子4を回転させるステージ5からなる。ストライプフィルタ3は、最大透過波長が異なる干渉フィルタを短冊状に複数並べて構成されている。回転ステージ5は、斜め入射を行うことでストライプフィルタ3の透過波長特性を変化させる。
請求項（抜粋）：
入射光を空間的に分散する光学系と、最大透過波長の異なる干渉フィルタを短冊状に複数並べて構成され、前記光学系によって空間的に分散された入射光を分光する分光フィルタと、前記分光フィルタの後方に配置され、分光された入射光を電気信号に変換する固体撮像素子と、前記固体撮像素子の後方に配置され、入射光の光軸に対して前記分光フィルタと前記固体撮像素子の法線軸を回転させる回転ステージとを備えたことを特徴とする分光分析装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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