特許

J-GLOBAL ID：200903041443324082

メモリ破壊検出方法および装置

発明者： 古山 浩志
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (3件)： 高松 猛 ,  市川 利光 ,  橋本 公秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-015242
公開番号（公開出願番号）：特開2007-199845
出願日： 2006年01月24日
公開日（公表日）： 2007年08月09日
要約：

【課題】実行プログラムの実行速度の低下や実行プログラムのメモリ容量の増大を抑制して、メモリ破壊を検出することができる方法およびその方法を使用するメモリ破壊検出装置を提供する。【解決手段】本発明のメモリ破壊検出方法は、メモリへのアクセスを伴って、プログラムを実行するプログラム実行工程と、プログラム実行工程においてメモリ中のいずれの領域がアクセスされたかを示すメモリアクセスログ情報を取得する、メモリアクセスログ情報取得工程と、メモリの中でアクセスが許容される、アクセス許容メモリ領域を算出する、アクセス許容メモリ領域算出工程と、プログラム実行工程の後に、メモリアクセスログ情報に基づいて、プログラム実行工程においてアクセスされたメモリの領域がアクセス許容メモリ領域内であるか否かを判定する、判定工程と、を備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

メモリへのアクセスを伴って、プログラムを実行するプログラム実行工程と、 前記プログラム実行工程において前記メモリ中のいずれの領域がアクセスされたかを示すメモリアクセスログ情報を取得する、メモリアクセスログ情報取得工程と、 前記メモリの中でアクセスが許容される、アクセス許容メモリ領域を算出する、アクセス許容メモリ領域算出工程と、 前記プログラム実行工程の後に、前記メモリアクセスログ情報に基づいて、前記プログラム実行工程においてアクセスされた前記メモリの領域が前記アクセス許容メモリ領域内であるか否かを判定する、判定工程と、を備える、メモリ破壊検出方法。

IPC (4件)：

G06F 11/30 ,  G06F 11/00 ,  G06F 12/14 ,  G06F 21/24

FI (5件)：

G06F11/30 305H ,  G06F11/00 350C ,  G06F12/14 510D ,  G06F12/14 560B ,  G06F11/30 320C

Fターム (5件)：

5B017AA02 ,  5B017BA01 ,  5B017CA01 ,  5B042HH30 ,  5B042JJ47

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特許1708355号公報