特許

J-GLOBAL ID：200903041453609840

集積回路および故障検出方法

発明者： 野崎 千秋
出願人/特許権者： エヌイーシーマイクロシステム株式会社
代理人 (1件)： 金田 暢之 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-113940
公開番号（公開出願番号）：特開2001-296334
出願日： 2000年04月14日
公開日（公表日）： 2001年10月26日
要約：

【要約】【課題】 CMOS集積回路のスキャンテストとともにIDDQテストの実行を可能にする、集積回路および故障検出定方法を提供する。【解決手段】 内部の全てのフリップフロップが直列接続されたシフトモード接続の選択が可能であり、入出力バッファで外部と信号のやりとりをする集積回路において、スキャン制御回路11は、スキャンテストのシフトモードで、入出力バッファ回路31の方向を出力に設定する。それにより、フローティング状態の発生を防止し、電源電流測定によるIDDQテストを可能とする。

請求項（抜粋）：

複数のフリップフロップを内部に有し、設定により信号の方向を選択可能な入出力バッファを外部インタフェースとして有する集積回路において、前記集積回路の故障検出のためのテストで前記入出力バッファの外部端子がハイインピーダンスとなるときに、前記入出力バッファの方向を出力側に設定するためのテスト用イネーブル信号を出力するスキャン制御回路と、前記テスト用イネーブル信号にしたがって前記入出力バッファを出力側に設定する入出力バッファ制御回路を有することを特徴とする集積回路。

IPC (3件)：

G01R 31/28 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822

FI (3件)：

G01R 31/28 V ,  G01R 31/28 G ,  H01L 27/04 T

Fターム (16件)：

2G032AB03 ,  2G032AC03 ,  2G032AC10 ,  2G032AD01 ,  2G032AK14 ,  2G032AK16 ,  5F038AV06 ,  5F038BE08 ,  5F038CD06 ,  5F038CD08 ,  5F038CD16 ,  5F038DT02 ,  5F038DT06 ,  5F038DT10 ,  5F038DT15 ,  5F038EZ20