特許
J-GLOBAL ID：200903041510635004
連続分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-092051
公開番号（公開出願番号）：特開平6-281477
出願日： 1993年03月25日
公開日（公表日）： 1994年10月07日
要約：
【要約】【目的】 簡単な構成で、分析部や被測定物の温度変化に起因する測定値の変化を温度補正係数により適切に補正し、かつ、分析装置の個体差や経年変化等に対応してその温度補正係数自体を適宜校正して常に正しい測定値を求める。【構成】 ゼロ・スパン試料測定時に分析部11から出力される原測定値、温度測定手段12から出力される温度測定値及びゼロ・スパン試料の既知の濃度に基づき、補正係数記憶手段14に記憶されている温度補正係数を校正する。
請求項（抜粋）：
a)被測定物の測定を行ない、原測定値を出力する分析部と、b)分析部の温度を測定し、温度測定値を出力する温度測定手段と、c)温度補正係数を記憶する補正係数記憶手段と、d)補正係数記憶手段に記憶されている温度補正係数を用いて、温度測定手段から出力される温度測定値に基づき、分析部から出力される原測定値を補正して補正測定値を算出する分析値算出手段と、e)ゼロ・スパン試料測定時に分析部から出力される原測定値、温度測定手段から出力される温度測定値及び該ゼロ・スパン試料の既知の濃度値に基づき、補正係数記憶手段に記憶されている温度補正係数を校正する補正係数校正手段と、を備えることを特徴とする連続分析装置。
IPC (3件)：
G01D 18/00
, G01D 3/00
, G01N 27/00
