特許

J-GLOBAL ID：200903041519821765

X線画像形成システム

発明者： 長束 澄也
出願人/特許権者： コニカ株式会社
代理人 (1件)： 鶴若 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-274077
公開番号（公開出願番号）：特開2000-105278
出願日： 1998年09月28日
公開日（公表日）： 2000年04月11日
要約：

【要約】【課題】各画素間に読み出すことができない領域(デッドスペース)の部分と一致した部分からもデータを画像信号として読み出すことを可能とし、画像の粒状性が向上する。【解決手段】X線画像を撮影して得られるX線エネルギーを直接電荷に変換してX線用半導体フラットパネルディテクタ2の各画素に蓄積して捕獲し、この蓄積された各画素の電荷を各画素70間に配置されたスイッチング素子の作動により前記各画素のデータライン毎に読み出し、撮影したX線画像を画像信号として取り出すことが可能なX線画像形成システムにおいて、X線用半導体フラットパネルディテクタ2の一側面に、前記各画素間のデッドスペース71に対応して電位印加により生じる電子あるいは正孔を散乱させる散乱物を配置して画像信号として取り出す。

請求項（抜粋）：

X線画像を撮影して得られるX線エネルギーを直接電荷に変換してX線用半導体フラットパネルディテクタの各画素に蓄積して捕獲し、この蓄積された各画素の電荷を各画素間に配置されたスイッチング素子の作動により前記各画素のデータライン毎に読み出し、撮影したX線画像を画像信号として取り出すことが可能なX線画像形成システムにおいて、前記X線用半導体フラットパネルディテクタの一側面に、前記各画素間のデッドスペースに対応して電位印加により生じる電子あるいは正孔を散乱させる散乱物を配置して画像信号として取り出すことを特徴とするX線画像形成システム。

IPC (4件)：

G01T 1/00 ,  G01T 1/24 ,  G03C 5/16 ,  H01L 27/14

FI (4件)：

G01T 1/00 B ,  G01T 1/24 ,  G03C 5/16 ,  H01L 27/14 K

Fターム (21件)：

2G088BB05 ,  2G088EE03 ,  2G088FF02 ,  2G088FF17 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ40 ,  2G088KK11 ,  2G088KK32 ,  2G088LL30 ,  2G088MM10 ,  2H016AA02 ,  4M118AA10 ,  4M118AB01 ,  4M118BA05 ,  4M118CA14 ,  4M118CA20 ,  4M118FA06 ,  4M118FB13 ,  4M118FB16 ,  4M118FB22 ,  4M118GA10