特許
J-GLOBAL ID：200903041546901924
電磁誘導型検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 芳春
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-255597
公開番号（公開出願番号）：特開平5-002082
出願日： 1991年10月02日
公開日（公表日）： 1993年01月08日
要約：
【要約】【目的】 誘電体、磁性体を問わずあらゆる検査対象物を高感度、高精度で検査、検出する。また、食品、薬品錠剤、合成樹脂製品、工作物などの被検査物の在否のみならず、それらの被検査物に含まれる異物乃至欠陥などを分解能よく検出する。しかも、被検査物の大きさに関係なく小型化に対応できる。【構成】 一次側の励磁コイル13aと二次側の誘導コイル13bを同軸で一部を接触させて一体に構成してなる検出コイル部13に、被検査物Sを近接配置させることで励磁コイル13aが形成する磁場fが変化し、誘導コイル13bのインダクタンスに変化が現れる。この電磁誘導型検査装置により、誘導コイル13bの出力を判定することで被検査物Sの材質を認識したり、異物の混入などを検出することができる。
請求項（抜粋）：
a)交流電流を出力する交流電源、b)交流電流の印加により励磁して磁場を形成する励磁コイルと、該励磁コイルと同軸で一部を接触させ該励磁コイルの励磁によって電磁誘導して起電力を発生させる少なくとも一つの誘導コイルとを一体に構成してなる検出コイル部、c)誘導コイルの出力から被検査物による磁場の変化を検出する検出回路とからなる電磁誘導型検査装置。
引用特許：
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