特許
J-GLOBAL ID:200903041554149336

タンディッシュ誘導加熱装置のピンチ検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 秋沢 政光 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-052518
公開番号(公開出願番号):特開平7-236952
出願日: 1994年02月28日
公開日(公表日): 1995年09月12日
要約:
【要約】【目的】 本発明は、連鋳用溝型タンディッシュの誘導加熱装置で発生するピンチ現象の検出およびその回避を可能とするピンチ検出方法を提供する。【構成】 連続鋳造の初期または末期に、タンディッシュ誘導加熱装置の湯溝9内の溶湯に誘導電流Iに起因して発生するピンチ現象の検出にあたり、先ず誘導コイル6への投入電圧,電流を検出し、この検出値により求められるインピーダンスを監視し、ピンチ現象発生の懸念のない低出力時のインピーダンス値を基準値として記憶し、操業中のインピーダンス変化量を判定することによりピンチ現象の予兆ならびに検出を行うピンチ検出方法である。【効果】 湯溝の経時変化,形状変更等による定常電流の変動の影響を受けることなく、ピンチ検出の検出精度が向上し、安定した電源の維持および受湯,出湯が可能となる
請求項(抜粋):
溝型タンディッシュ誘導加熱装置による鋳造の初期または末期に、タンディッシュ湯溝内の溶湯に誘導電流に起因して発生するピンチ現象を検出するにあたり、先ず誘導コイルへの投入電圧,電流を検出し、この検出値により求められるインピーダンスを監視し、ピンチ現象発生の懸念のない低出力時のインピーダンス値を基準値として記憶し、操業中のインピーダンス変化量を判定することによりピンチ現象の予兆ならびに検出を行うことを特徴とするタンディッシュ誘導加熱装置のピンチ検出方法。
IPC (5件):
B22D 11/10 310 ,  B22D 11/16 104 ,  B22D 41/01 ,  H05B 6/06 355 ,  H05B 6/10 311

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