特許
J-GLOBAL ID：200903041556239030
カムシャフトの検査方法および検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
福岡 正明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-350280
公開番号（公開出願番号）：特開平7-190702
出願日： 1993年12月27日
公開日（公表日）： 1995年07月28日
要約：
【要約】【目的】 複数の同一形状かつ同一位相のカムを有するカムシャフトの検査において、過大な検査設備を要することなく、短時間にカム面の形状および位相のズレ並びにカムの基円部半径の寸法精度等を同時に正確に検出することを目的とする。【構成】 カムシャフトXのカムZの周面に当接する倣いローラ6を測定ヘッド取付台4に固定金具7を介して一体に取り付け、カムZ’の周面に当接する変位量測定子10を上記取付台4に一体に取り付けたマグネスケール8にカム軸Yに垂直方向に摺動自在に内装し、かつ固定位置に設けた基準金14’に当接する基円半径測定子11を上記取付台4に一体に取り付けたマグネスケール9に摺動自在に内装したうえで、カムシャフトXを回転させたときの変位量測定子10と基円半径測定子11の各マグネスケール8,9に対する相対移動量をコントローラ12が所定値と比較してカムZ,Z’の加工仕上がり状態を検査する。
請求項（抜粋）：
複数の同一形状かつ同一位相のカムを有するカムシャフトの検査方法であって、同一形状かつ同一位相の二つのカムの周面に、該カムシャフトの軸心に直交する方向に移動可能な接触子をそれぞれ当接させ、この状態でカムシャフトを回転させたときの両接触子の相対移動量に基づいて上記二つのカムの周面の状態を判定することを特徴とするカムシャフトの検査方法。
IPC (2件)：
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