特許
J-GLOBAL ID：200903041569540554
比誘電率の測定方法および装置ならびに埋設物の探査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西教 圭一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-057240
公開番号（公開出願番号）：特開平7-270528
出願日： 1994年03月28日
公開日（公表日）： 1995年10月20日
要約：
【要約】【目的】 地中埋設管が埋設されている土壌の比誘電率を、演算処理時間を短縮して測定することができるようにすること。【構成】 地表面から電磁波を放射し、地中埋設管による反射波を受信し、地中埋設管を横切るように移動しつつ放射した電磁波と反射波との時間差に基づいて土壌断面の原画像を作成し、その原画像の一部分の領域を指定し、その指定した領域において整合フィルタの手法、反射波の波形整形を行い、その後、土壌の比誘電率を順番に変更しつつ設定しながら、前記波形整形した画像領域の画像を用いて、マイグレーション法による演算処理を行い、ピークピーク値を用いて収斂の程度の評価を行い、さらにスプライン補間を行って、ピークピーク値の最大が得られる比誘電率を求め、こうして高い収斂の程度が得られた比誘電率を、実際の比誘電率と定める。
請求項（抜粋）：
埋設物が埋設されている隠蔽場所の表面に沿って移動しつつ、隠蔽場所に、電磁波を放射し、埋設物による反射波を受信し、放射した電磁波と反射波との時間差に基づいて隠蔽場所の断面の原画像を作成し、原画像を画面に表示し、その画面内で埋設物の像を含む前記画面の一部分の領域を指定し、隠蔽場所から埋設物までの比誘電率を順番に変更しつつ設定し、設定した各比誘電率を用いて、前記領域の画像を用いて、埋設物の見かけの位置から真の位置に戻すマイグレーション法による演算処理を行い、その演算処理によって得られた埋設物の像の収斂の程度を評価し、高い収斂の程度が得られた比誘電率を、隠蔽場所から埋設物までの比誘電率であると判定する比誘電率の測定方法。
IPC (2件)：
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