特許
J-GLOBAL ID：200903041584180483
レーザーダイオード冷却装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 幸男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-217070
公開番号（公開出願番号）：特開平7-058416
出願日： 1993年08月09日
公開日（公表日）： 1995年03月03日
要約：
【要約】【目的】 外気温の急激な変動に対しても常に安定した制御によってレーザーダイオードモジュールを冷却し使用する。【構成】 第2の温度センサ12によって外気温を測定し、第2の冷却デバイス8は、第1のヒートシンク7を外気温の変動の影響を受けないほぼ一定の温度に冷却制御する。この制御は、帰還制御に比べて精度は低いが応答は早く、第1のヒートシンク7は適当な温度範囲で温度が安定する。第1の冷却デバイス6はこの第1のヒートシンク7の温度下で、レーザーダイオード4を目標温度に冷却するようにレーザーダイオードモジュール3の温度制御を行う。この帰還制御によれば、高い精度でレーザーダイオードモジュール3を冷却でき、しかも、応答は早くなる。
請求項（抜粋）：
レーザーダイオードを搭載した基板の温度を測定する第1の温度センサと、この第1の温度センサの出力信号を受け入れて、帰還制御により前記レーザーダイオードを設定温度に保持するよう冷却する第1の冷却デバイスと、前記第1の冷却デバイスの放熱のための第1のヒートシンクを冷却する第2の冷却デバイスと、前記第2の冷却デバイスの放熱のための第2のヒートシンクが置かれた環境温度を測定する第2の温度センサとを備え、前記第2の冷却デバイスは、前記第2の温度センサの出力の変化に応じた駆動電力により、前記第1のヒートシンクを一定の設定温度に冷却することを特徴とするレーザーダイオード冷却装置。
IPC (3件)：
H01S 3/18
, H01L 23/34
, H01L 23/38
