特許
J-GLOBAL ID：200903041651271286
クリーム半田印刷外観検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-144072
公開番号（公開出願番号）：特開平5-332745
出願日： 1992年06月04日
公開日（公表日）： 1993年12月14日
要約：
【要約】【目的】 実装回路基板の材質によらず、印刷かすれ等のクリーム半田印刷不良の検査精度を向上させる。【構成】 レーザ光16をクリーム半田12が印刷されたプリント回路基板11上に走査し、その反射光を位置検出素子22a、22b上に集光し、この位置信号S23からプリント回路基板11上に印刷されたクリーム半田12の高さデータを演算する。補正体積演算部で補正値記憶部の値を考慮して真の体積を求め、回路基板の材質に影響されずにクリーム半田の印刷状態の良否を高い精度で検査する。
請求項（抜粋）：
クリーム半田が印刷された回路基板を移動させる搬送手段と、レーザ光源からのレーザ光をポリゴンミラーとfθレンズにより上記回路基板上を走査するレーザ光走査手段と、上記レーザ光の走査により上記回路基板上から反射して得られる散乱光を、上記回路基板と上記fθレンズの間に設けた反射ミラーで反射させ、上記fθレンズとポリゴンミラーとを介して反射させる散乱光反射手段と、上記散乱光反射手段からの散乱光を集光レンズで位置検出素子に集光し位置信号を出力する位置検出手段と、上記位置検出手段からの位置信号により上記回路基板及び回路基板上に印刷されたクリーム半田の高さデータを演算する高さデータ演算手段と、クリーム半田の印刷位置に予め定めた任意サイズの複数のマスクのデータを格納するマスクデータ記憶手段と、マスク内のデータからクリーム半田の体積値を計算する体積演算回路と、マスクごとに補正値を格納する補正値記憶手段と、補正値と計算された体積値とから真の体積値を計算する補正体積演算回路と、良否判定用の基準しきい値を格納する判定用しきい値記憶手段と、真の体積値と基準しきい値とを比較し上記回路基板上のクリーム半田の印刷状態の良否を判定する判定処理手段とを備えるクリーム半田印刷外観検査装置。
IPC (5件)：
G01B 11/24
, B41F 15/08 303
, B41F 33/14
, G01N 21/88
, H05K 3/34
