特許
J-GLOBAL ID:200903041692897637
等2軸引張試験治具
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-014904
公開番号(公開出願番号):特開平9-210888
出願日: 1996年01月31日
公開日(公表日): 1997年08月15日
要約:
【要約】【課題】これまで等2軸引張試験においては、試験片の変位量を測定できず高温下や試験片に塑性変形が生じる場合、正確な測定ができなかった。【構成】平板状の試験片1をリング状支点により支持するリング状支持部材7と、リング状支持部材を保持する下側保持部材8と、試験片にリング状支点により応力を負荷するリング状応力負荷部材2と、リング状応力負荷部材2を保持するための上側保持部材3とを備え、少なくとも上側保持部材3に、溝11,11’を形成することにより光透過孔を設け、この光透過孔を通じて部材3の直径方向に光を貫通させて透過光の位置を検出して試験時のリング状応力負荷部材2の変位を求める。
請求項(抜粋):
平板状の試験片をリング状支点により支持するリング状支持部材と、該リング状支持部材を保持する下側保持部材と、前記試験片にリング状支点により応力を負荷するリング状応力負荷部材と、該リング状応力負荷部材を保持するための上側保持部材とを備えた等2軸引張試験治具において、少なくとも前記上側保持部材に、該上側保持部材の直径方向に光を貫通させて試験時に前記リング状応力負荷部材の変位を検出するための光透過孔を形成したことを特徴とする等2軸引張試験治具。
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