特許
J-GLOBAL ID:200903041716209796
材料の並列テストのための構成
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (6件):
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 星野 修
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-515409
公開番号(公開出願番号):特表2004-504932
出願日: 2001年07月27日
公開日(公表日): 2004年02月19日
要約:
【解決手段】本発明は、特に性能特性のための材料ライブラリーの複数の基礎単位を並列的にテストするための構成に関する。該構成は、少なくとも1つの反応モジュール(100)と、少なくとも2つの加熱/冷却モジュール(200)とを備えるブロックを有する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
特に性能特性のための材料ライブラリーの複数の基礎単位を並列的にテストするための構成であって、
少なくとも1つの反応モジュール(100)と、少なくとも2つの加熱/冷却モジュール(200)と、を備えるブロックを有する構成。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (8件):
4G075AA02
, 4G075AA45
, 4G075AA46
, 4G075AA63
, 4G075CA02
, 4G075CA03
, 4G075CA54
, 4G075EE33
引用特許:
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