特許
J-GLOBAL ID：200903041737287258
光方式の電界測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-034443
公開番号（公開出願番号）：特開平6-230052
出願日： 1993年01月30日
公開日（公表日）： 1994年08月19日
要約：
【要約】[目的] 電界を光学的に測定するものにおいて、光源を一定温度に保つことのよって出力光の波長を一定波長に維持して良好な検出特性を得る。[構成] 測定すべき電界を印加した電気光学結晶7に光源2からの光線を透過させて受光素子12で受光し透過光の電気光学効果による光学的な変化から上記電界を測定するものにおいて、上記光源2と上記受光素子12の発熱側とを熱的に結合させて受光素子12側の熱を光源2側へ移送するサーモ・モジュール21を具備すること、および上記光源2を一定温度に保つように上記サーモ・モジュール21による熱の移送量を制御する温度制御部23を具備することを特徴とするものである。
請求項（抜粋）：
測定すべき電界を印加した電気光学結晶に光源からの光線を透過させて受光素子で受光し透過光の電気光学効果による光学的な変化から上記電界を測定するものにおいて、上記光源と上記受光素子の発熱側とを熱的に結合させて受光素子側の熱を光源側へ移送するサーモ・モジュールを具備することを特徴とする光方式の電界測定装置。
IPC (2件)：
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