実装基板検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：京本直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-191515
公開番号（公開出願番号）：特開平7-043124
出願日： 1993年08月03日
公開日（公表日）： 1995年02月10日
要約：

【要約】【目的】基板に実装する部品のはんだ付け状態の外観検査においてリード浮きやはんだウィッキングなどの欠陥検出能力を向上する。【構成】照明器具3が実装部品2に照明光を照射し、その反射光の画像データにおいて、検査ウィンドウ発生回路7が各リードにそれぞれリード全体を囲む様に検査ウィンドウを発生させ、重心算出回路9がウィンドウ内の3つの明部領域について重心座標を算出し、3ラベル間距離算出回路10が3つの明部領域間の距離を求め、それぞれの距離について、比較回路11が良品の場合と比較することによって良否信号を出力する。

請求項（抜粋）：

プリント基板上の表面実装部品を照らす照明器具と、前記表面実装部品のリード及びはんだ付け部を撮像するカメラと、前記カメラが取り込んだ画像のアナログ濃淡信号を二値化して二値化画像を得る二値化回路と、前記二値化回路による二値化画像について前記表面実装部品の各リードに対してリード全体を囲む検査ウィンドウを発生させるウィンドウ発生回路と、前記ウィンドウ内の画像の二値化データについて二値化データが明部を示す画素どうしをグルーピングした明部領域を面積の大きい順に3つ抽出するラベル付け回路と、前記ラベル付け回路で抽出した各明部領域の重心座標を算出する重心算出回路と、前記重心算出回路の出力データから各明部領域の重心間の距離を算出する距離算出回路と、前記距離算出回路の出力データとしきい値とを比較し実装部品のリードのはんだ付けの良否を判定する比較回路とを含むことを特徴とする実装基板検査装置。

IPC (4件)：

G01B 11/24 , G01N 21/88 , H05K 3/34 512 , H05K 13/08

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開昭63-044282
特開平3-202707
特開平3-220406

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